Анализ поверхности методом оже- и рентгеновcкой фотоэлектронной спектроскопии / 
 Practical Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy 
Под ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха ; Пер. с англ. под ред. В.И. Раховского и И.С. Реза. 
 - Москва :  Мир,  1987. 
 - 600 с. :  ил. 
<br/><br/>Списки лит. в конце гл. 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Поверхностные явления - Спектроскопические исследования