TY  - BOOK
AU  - Воробьев,Владимир Леонидович
TI  - Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
SN  - 5-02-006639-7
PY  - 1989///
CY  - Москва
PB  - Наука
KW  - Микроэлектронные устройства - Надежность - Термодинамические исследования
N1  - Библиогр.: с. 155-157
ER  -