Исследование механических свойств контакта сферический идентор-полупроводник на растровом электронном микроскопе / 
Г.Г. Бабаян, В.И. Петров, Ю.А. Голубев, С.Г. Асатрян, Е.С. Добрынина; ЕФИ. 
 - Ереван :  Арус,  1976. 
 - 16 с. :  ил., граф. ;  20 см. 
 - Научное сообщение ЕФИ  179(25)-(76) .
 - 621.382 (NLA) .
<br/><br/>Библиогр.: с. 13 (19 наим.) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Физика
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>621.382 (NLA)