Статистические методы анализа и контроля качества в полупроводниковом производстве : Обзоры по электронной технике /
В.П. Кульвинова, Т.А. Иоаннисянц, А.И. Кочетков и др.; Министерство электронной промышленности СССР.
- Москва : Институт "Электроника", 1970.
- 34 с. табл.
- Технология и организация производства Вып. 11 (183) .