Методы анализа качества микросхем при их производстве : По данным отечественной и зарубежной печати за 1965 - 1981 гг.): Обзоры по электронной технике. /
В.И. Овчаренко; Мин-во электронной промышленности СССР.
- Москва : ЦНИИ "Электроника", 1982.
- 40 с. табл.
- Микроэлектроника. Вып. 1 .