TY  - BOOK
AU  - Нечаев,А.М.
AU  - Рубаха,Е.А.
AU  - Синкевич,В.Ф.
ED  - Мин-во электронной промышленности СССР
TI  - Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов: Обзоры по электронной технике. Реферативно - аналитический обзор 
PY  - 1978///
CY  - Москва
PB  - ЦНИИ "Электроника"
KW  - Надежность мощных СВЧ транзисторов
N1  - Библиогр.: с. 73 - 80 (117 назв.)
ER  -