Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения / 
В.В. Болдырев и др. ; Отв. ред. Г.Н. Кулипанов ; ИХТТ СО АН СССР ; ПМС ; ИЯФ. 
 - Новосибирск :  Наука. Сибирское отделение,  1989. 
 - 145 с. :  ил. 
<br/><br/>Библиогр. в конце глав. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>5-02-028690-7 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Рентгенографический анализ кристаллов. Рентгенографическое исследование структуры