Боуэн, Д.К. <br/><br/>
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография =  High resolution x-ray diffractometry and topography / 
 High resolution x-ray diffractometry and topography 
Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред.: И.Л. Шульпина ; Пер. с англ. И.Л. Шульпиной, Т.С. Аргуновой. 
 - Санкт-Петербург :  Наука,  2002. 
 - 273 с.  ил. 
<br/><br/>Библиогр. в конце гл. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>5-02-024963-7 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Электронная техника<br/>Кристаллофизика<br/>Радиотехнические материалы и изделия--Полупроводниковые материалы--Исследования--Рентгеновские методы исследований
<br/><br/><label>Subjects--Index Terms: </label>Анализ эпитаксиальных слоев Анализ тонких пленок и многослойных систем