Эллипсометрия - метод исследования поверхности / 
АН СССР. Сибирское отд-е. Ин-т физики полупроводников ; Отв. ред. А.В. Ржанов. 
 - Новосибирск :  Наука. Сиб. отд-ние ,  1983. 
 - 180 с. 
<br/><br/><label>ISBN: </label> 3.00 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Физика