Карташов, Геннадий Дмитриевич <br/><br/>
Качество и надежность изделий :  Ускоренные испытания элементов и систем / 
Г.Д. Карташов ; Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем / И.Т. Алексанян. 
 - Москва :  Знание ,  1990. 
 - 88 с. :  ил. ;  20 см. 
 - Качество и надежность изделий  N 6(12). Общество "Знание", Политехнический музей .
 - 658.6 .
 - Качество и надежность изделий  N 6(12). Общество "Знание", Политехнический музей .
<br/><br/> В помощь слушателям лекций Консультационного центра по качеству и надежности.  В надзаг. также: Гос. ком. СССР по управлению качеством продукции и стандартам ; Союз научных и инженерных обществ СССР. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>507-001401-3 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Микроэлектронные схемы интегральные --Надежность--Статистическая теория<br/>Промышленная продукция--Надежность--Сборники
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>658.6