Сысоев, Станислав Михайлович <br/><br/>
Методы контроля толщин покрытий из драгоценных металлов / 
С.М. Сысоев; М-во электронной промышл. СССР. 
 - Москва :  Электроника,   1970. 
 - 32 с. :  ил. ;  22 см. 
 - Обзоры по электронной технике. Серия: Управление качеством и стандартизация  Вып. 177 № 1 .
 - 621.35 (NLA) .
<br/><br/>Библиогр.: с. 27-30 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Металлы--Осаждение электролитическое
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>621.35 (NLA)