Раков, Александр Васильевич. <br/><br/>
Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур / 
А.В. Раков. 
 - Москва :  Сов. радио,  1975. 
 - 176 с. :  4 табл., 71 рис. 
<br/><br/>Библиогр. 115 назв. 
<br/><br/><label>ISBN: </label> 00.55 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Спектрофотометрические исследования