Литвинов, Юрий Михайлович <br/><br/>
Методы наблюдения и контроля дефектов в полупроводниковых материалах и структурах :  (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1958-1975 гг.) / 
Ю.М. Литвинов, Т.И. Ольховикова, Ф.Р. Хашимов; М-во электронной пром-сти СССР. 
 - Москва :     Б. и.,  1976. 
 - 34 с. :  ил. ;  21 см. 
 - Обзоры по электронной технике ;  Серия 6, Материалы  Вып. 3(373) .
<br/><br/> На обл. перед загл. авт. 
<br/><br/>Библиогр.: с. 31-34 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Полупроводники