Левин, Б.М. <br/><br/>
Контактный метод измерения микрогеометрии поверхности :  Основы метода и оптические профилографы / 
Б.М. Левин. 
 - Москва ;  Ленинград :  Машгиз,  1950. 
 - 192 с. :  ил. 
<br/><br/>Библиогр.: c. 189-190 . 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Измерение плоскостей и сечений