Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ :  В 2-х кн. Кн. 1 / 
 Scanning Electron Microscopу and X-Raу Microanalysis 
[Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.] ; Пер. с англ. Р.С. Гвоздовер, Л.Ф. Комоловой. 
 - Москва :  Мир ,  1984. 
 - 303 с.  22 см. ;. 
<br/><br/> Авт. указаны на обороте тит. л.  Перевод изл.: Scanning Electron Microscopу and X-Raу Microanalysis / Jonewburу Patrick Eclin et al. (New Jork; London, 1981) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Рентгеноспектральный анализ<br/>Рентгеноструктурный анализ<br/>Электронная микроскопия