Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем :  Материалы III всесоюзного научно-технического семинара / 
РРТИ МВ и ССО РСФСР ; Отв. ред. П.Т. Орешкин. 
 - Рязань :  РРТИ ,  1985. 
 - 175 с. :  ил. 
<br/><br/>Библиогр. в конце докл. 
<br/><br/><label>ISBN: </label> 0.80 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Электроника