TY  - BOOK
AU  - Фелдман,Леонард
AU  - Майер,Джеймс
AU  - Аркадьев,В.А.
AU  - Огнев,Л.И.
AU  - Белошицкий,В.В.
TI  - Основы анализа поверхности и тонких пленок
SN  - 5-03-001017-3
PY  - 1989///
CY  - Москва
PB  - Мир
KW  - Пленки тонкие
KW  - Поверхностные слои
N1  - Библиогр. в конце глав; Oригинал на англ.; Leonard C. Feldman, James W. Mayer -; New York, Amsterdam, London : North-Holland : 1986
ER  -