Степанян, Степан Хачатурович <br/><br/>
Разработка и исследование метода дифференциальных фотоответных изображений для диагностики дефектов полупроводниковых приборов и интегральных схем :  Автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 : 05.27.01 / 
МНОРАрм., ЕрПИ. 
 - Ереван,  1992. 
 - 16 с. 
<br/><br/>Науч. рук. В.Н. Амазаспян 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления<br/>Твердотельная электроника и микроэлектроника ь<br/>Полупроводниковые приборы
<br/><br/><label>Index Terms--Genre/Form: </label><br/>Thesis