Мелконян, Давид Карапетович <br/><br/>
Тестирование технологических показателей кремниевых микросхем инструментами визуализации :  Автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01, 05.11.16 / 
 Սիլիցիումային միկրոսխեմաների տեխնոլոգիական ցուցանիշների թեսթավորում տեսանելիացման գործիքներով :  Սեղմագիր տեխն. գիտ. թեկն. ... ատենախոսության : Ե.27.01, Ե.11.16 
МОиН РА, ГИУА. 
 - Ереван :  2004. 
 - 24 с. 
<br/><br/>Науч. рук. С.О. Мкртчян 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты и микроэлектроника<br/>Информационно-измерительные системы
<br/><br/><label>Index Terms--Genre/Form: </label><br/>Thesis