Разработка теоретических и экспериментальных основ новых рентгенодифракционных методов выявления структурных несовершенств кристаллических материалов : Дис. ... д-р техн. наук : 05.16.01 /
МОиН РА, ГИУА.
- Ереван, 2005.
- 272 с. : ил., табл.
Список лит. с. 262-271
Материаловедение и композиционные материалы Кристаллография Рентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей