Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений.
- Москва : Сов. комит. по участию в МЭК.
- часть.
- Международная электротехническая комиссия (Рекомендация МЭК) Публикация 147-1F (Шестое доп. к публикации 147-1 (1972) .