Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : Доклад на конференции молодых специалистов и ученых Ин-та точной механики и вычисл. техники АН СССР им. С. А. Лебедева / Я.А. Абрукин, Г.В. Кристовский; АН СССР. Ин-т точной механики и вычисл. техники им. С.Л. Лебедева.
Նյութի տեսակ։
ՏեքստԼեզու: Ռուսերեն Հրատարակման մանրամասներ։ Москва : Б. и., 1976.Նկարագրություն։ 17 с. : ил. ; 22 смԽորագրեր։
| Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Book
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/381663 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | 30 Days Loan | FL0361328 | ||
|
Book
|
National Library of Armenia | Depository | 681.3 / А-169 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | Մեկ ամիս | NL1924798 |
Դիտման Fundamental Scientific Library դարակ, Հավաքածու։ General Փակիր դարակի դիտակը (Թաքցնում է դարակի դիտակը)
Библиогр.: с. 17
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։