ՀԱՅԱՍՏԱՆԻ ԳՐԱԴԱՐԱՆՆԵՐԻ ՀԱՄԱՀԱՎԱՔ ԳՐԱՑՈՒՑԱԿ = Union Catalog of Armenian Libraries

Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье ; Пер. с франц. Г.Д. Стельмаковой ; Под ред. И.Б. Боровского.

Աջակցող(ներ)։ Նյութի տեսակ։ ՏեքստՏեքստԼեզու: Ռուսերեն Բնօրինակ լեզու: ֆրանսերեն Հրատարակման մանրամասներ։ Москва : Металлургия, 1985.Նկարագրություն։ 408 с. : илԽորագրեր։
Ցուցիչներ այս գրադարանից: Չկան ցուցիչներ այս գրադարանի այս վերնագրի համար. Մուտք գործիր ցուցիչներ ավելացնելու համար.
Աստղային վարկանիշներ
    Միջին գնահատական: 0.0 (0 քվեներ)
Պահումներ
Նյութի տեսակ Ընթացիկ գրադարան Հավաքածու Դարակային համար Վիճակ Նշումներ Վերադարձի ամսաթիվ Շտրիխ կոդ
Book Book Engineering University Library Գիտական 537.533 М-59 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) Հասանելի 30 Days Loan EU0333468
Book Book Fundamental Scientific Library General PII/532997 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) Հասանելի 30 Days Loan FL0166901
Book Book Fundamental Scientific Library General PII/536576 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) Հասանելի 30 Days Loan FL0162769
Book Book Fundamental Scientific Library General PII/536577 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) Հասանելի 30 Days Loan FL0162763
Book Book Scientific Technical Library Գրքային հավաքածու 543 М 597 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) Հասանելի One Day Loan NC0072574
Book Book Scientific Technical Library Գրքային հավաքածու 543 М 597 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) Հասանելի One Day Loan NC0072573
Դիտման Engineering University Library դարակ, Հավաքածու։ Գիտական Փակիր դարակի դիտակը (Թաքցնում է դարակի դիտակը)
Չկան հասանելի կազմերի պատկերներ
Չկան հասանելի կազմերի պատկերներ
Չկան հասանելի կազմերի պատկերներ
Չկան հասանելի կազմերի պատկերներ
Չկան հասանելի կազմերի պատկերներ
Չկան հասանելի կազմերի պատկերներ
Չկան հասանելի կազմերի պատկերներ
537.531 Б-70 Физика рентгеновских лучей / 537.531 Б-70 Физика рентгеновских лучей / 537.531:535.3(043.3) Ն-72 Ներկանյութերով հարստացված հեղուկ բյուրեղական ֆոտոնային կառուցվածքներով լազերային միջավայրերի օպտիկական հատկությունների փորձարարական հետազոտումը / Սեղմ. ֆիզ.մաթ. գիտ. թկն. ... ատենախոսության : Ե.04.21. / 537.533 М-59 Микроанализ и растровая электронная микроскопия / 537.533 М-75 Интенсивные электронные и ионные пучки / 537.533 М-75 Интенсивные электронные и ионные пучки / 537.533 М-75 Интенсивные электронные и ионные пучки /

Список лит. с. 392-403

Оригинал на франц. : Microanalyse et Microscopie Electronique a Balayage / Edt. J. Henoc, F. Maurice, L. Meny, J. Ruste, R. Tixier - France

Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։

ուղարկել մեկնաբանություն։

Հայաստանի ազգային գրադարան ՀՀ, 0009,Երևան, Տերյան 72 Հետադարձ կապ

Ուղեկցվում է Կոհա