Պատկեր Amazon.com -ից
Semiconductor measurements and instrumentation / by W.R. Runyan and T.J. Shaffner.
Նյութի տեսակ։
ՏեքստՀրատարակման մանրամասներ։ New York, N.Y. : McGraw Hill, 1998.Հրատարակություն։ 2nd edՆկարագրություն։ x, 454 p. : ill. ; 24 cmISBN: - 0070576971
Մասնակի Բովանդակություն:
Crystal orientation--Crystal defects--Impurity concentration--Resistivity, sheet resistance, and contact resistance.
| Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Book
|
American University Library of Armenia | Ընթերցասրահ | 621.38 RUN (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | 76 | AUA-PL-0014942 |
Դիտման American University Library of Armenia դարակ, Հավաքածու։ Ընթերցասրահ Փակիր դարակի դիտակը (Թաքցնում է դարակի դիտակը)
|
|
|
|
|
|
|
||
| 621.38 POY A technical introduction to digital video / | 621.38 RHO Theory of electrical filters / | 621.38 ROS Acoustics and electroacoustics / | 621.38 RUN Semiconductor measurements and instrumentation / | 621.38 SEL Selected topics in signal processing / | 621.38 SIE Computer structures : | 621.38 SIN Digital, analog, and data communication / |
Includes bibliographical references and index.
Crystal orientation--Crystal defects--Impurity concentration--Resistivity, sheet resistance, and contact resistance.
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։