Методы анализа качества микросхем при их производстве : По данным отечественной и зарубежной печати за 1965 - 1981 гг.): Обзоры по электронной технике. / В.И. Овчаренко; Мин-во электронной промышленности СССР.
Նյութի տեսակ։
ՏեքստԼեզու: Ռուսերեն Մատենաշար։ Микроэлектроника. Вып. 1 Հրատարակման մանրամասներ։ Москва : ЦНИИ "Электроника", 1982.Նկարագրություն։ 40 с. таблԽորագրեր։
| Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Book
|
Scientific Technical Library | Գրքային հավաքածու | 621.38 О-35 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | Three Hour Loan | 50-24567 |
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։