Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография = High resolution x-ray diffractometry and topography / Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред.: И.Л. Шульпина ; Пер. с англ. И.Л. Шульпиной, Т.С. Аргуновой.
Նյութի տեսակ։ ՏեքստՀրատարակման մանրամասներ։ Санкт-Петербург : Наука, 2002.Նկարագրություն։ 273 с. илISBN:- 5-02-024963-7
- High resolution x-ray diffractometry and topography
Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Book | Fundamental Scientific Library | General | 621.38 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | 25 Days Loan | 120649677 |
Դիտման Fundamental Scientific Library դարակ, Հավաքածու։ General Փակիր դարակի դիտակը (Թաքցնում է դարակի դիտակը)
Библиогр. в конце гл.
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։