Качество и надежность изделий : Ускоренные испытания элементов и систем / Г.Д. Карташов ; Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем / И.Т. Алексанян.
Նյութի տեսակ։ ՏեքստԼեզու: Ռուսերեն Մատենաշար։ Качество и надежность изделий ; N 6(12). | Общество "Знание", Политехнический музейՀրատարակման մանրամասներ։ Москва : Знание , 1990.Նկարագրություն։ 88 с. : ил. ; 20 смISBN:- 507-001401-3
Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Book | National Library of Armenia | Depository | 658.6 / К-309 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | One Month Loan | NL1150152 |
В помощь слушателям лекций Консультационного центра по качеству и надежности.
В надзаг. также: Гос. ком. СССР по управлению качеством продукции и стандартам ; Союз научных и инженерных обществ СССР.
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։