Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Моделирование на ЭВМ дефектов в кристаллах : Материалы Всесоюзного постоянного семинара по моделированию радиационных и других дефектов на ЭВМ / Предисл. А.Н. Орлова, Ю.В. Трушина ; АН СССР, Физико-технический ин-т им. А.Ф. Иоффе АН ССС. - Л. : ЛИЯФ , 1979. - 205 с. ; 21 см.

ամբողջապես կամ մեկ օրացույցային տարվա ընթացքում հրատարակվող մենագրություն 1979 այլ

ISBN: 1.20