Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Валиев, Руслан Зуфарович

Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии / Р.З. Валиев, А.Н. Вергазов, В.Ю. Герцман - Москва : Наука , 1991. - 230,[1] с. и . 22 см.

Библиогр.: с. 221-225 (115 назв.)

АН СССР, Ин-т пробл. сверхпластичности металлов

ISBN: 5-02-000195-3 2.70

Subjects--Topical Terms:
Кристаллография
Электронная микроскопия