Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Этапы развития и основные понятия патентной экспертизы / Г.А. Анисов, И.И. Кичкин, Н.М. Мадатов, Э.П. Скорняков; ЦНИИПИ. - Москва : ЦНИИПИ. - вып.

Под общ. ред. В.Н. Бакастова Вып. 1 (1973, 46 с.; Библиогр.: с 44)