Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Докучаев, Ю.П.

Использование метода каналирования для исследования поверхностных ионнолигированных слоев в полупроводниках : обзоры по электронной технике / Ю.П. Докучаев, И.И. Разгуляев; М-во электронной пром-ти, ЦНИИ "Электроника". - Москва : Изд-во ЦНИИ "Электроника", 1974. - 54 с. - Полупроводниковые приборы .

Библиогр.: с. 49 - 53 (88 назв.)

Subjects--Topical Terms:
Физика полупроводников

Subjects--Index Terms: тяжелые заряженные частицы решетка кристалла