Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Александров, Леонид Наумович.

Применение метода внутреннего трения для исследования полупроводников / Л.Н. Александров, М.И. Зотов; Мин-во электр. пром-сти СССР. - Москва : Изд-во ин-та Электроника, 1970. - 23 с. : рис. - Обзоры по электронной технике Полупроводниковые приборы вып. №7 (215) .

Библиогр.: с. 21 - 22 (39 назв.)

Subjects--Topical Terms:
Полупроводники

Subjects--Index Terms: микроэлектроника