Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Vernon, Philip Ewart.

Intelligence and attainment tests / Philip Ewart Vernon. - London : University of London Press, [1960]. - 207 p. : diagrs., tables. ; 23 cm. - 371.26 .

Bibliogr.: p. [193]-200.

Subjects--Topical Terms:
Educational tests and measurements

Dewey Class. No.: 371.26