Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Анализ поверхности методом оже- и рентгеновcкой фотоэлектронной спектроскопии / Practical Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy Под ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха ; Пер. с англ. под ред. В.И. Раховского и И.С. Реза. - Москва : Мир, 1987. - 600 с. : ил.

Списки лит. в конце гл.

Subjects--Topical Terms:
Поверхностные явления - Спектроскопические исследования