Метод экспрессного определения степени нарушенности кристаллов с использованием синхротронного излучения :
Метод экспрессного определения степени нарушенности кристаллов с использованием синхротронного излучения : ЕФИ-1117(80)-88 /
An Express Method for Determination of Crystal Perfection Using Synchrotron Radiation
И.П. Карабеков, Д.Л. Егикян, Р.А. Микаелян и др.; ЕФИ, ЦНИИатоминформ.
- Ереван : Б. и., 1988.
- 14 с. рис. ; 21 см.
Библиогр.: с. 11 (6 наим.)
Текст на англ. яз.
Физика
Библиогр.: с. 11 (6 наим.)
Текст на англ. яз.
Физика