Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем /

Чернышев, Александр Алексеевич

Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем / А.А. Чернышев. - Москва : Радио и связь, 1988. - 256 с. : ил.

Библиогр.: с. 249 - 252 (87 назв.)

ISBN: 5-256-00042-X

Subjects--Topical Terms:
Полупроводниковые приборы

Տպել
Ավելացրու քո սայլակին (հեռացրու)
Հիշիր գրառումը
BIBTEX Դուբլինյան միջուկ ISBD MARC (ոչ-Unicode/MARC-8) MARCXML MODS (XML) RIS MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Ստանդարտ)
Ավելի փնտրումներ

Որոնիր այս վերնագիրը ներսում՝
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org)