Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов : Обзоры по электронной технике. Реферативно - аналитический обзор /

Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов : Обзоры по электронной технике. Реферативно - аналитический обзор / А.М. Нечаев, Е.А. Рубаха, В.Ф. Синкевич; Мин-во электронной промышленности СССР. - Москва : ЦНИИ "Электроника", 1978. - 80 с. ил. - Серия 2. Полупроводниковые приборы Вып. 10 .

Библиогр.: с. 73 - 80 (117 назв.)

Subjects--Topical Terms:
Надежность мощных СВЧ транзисторов

Տպել
Ավելացրու քո սայլակին (հեռացրու)
Հիշիր գրառումը
BIBTEX Դուբլինյան միջուկ ISBD MARC (ոչ-Unicode/MARC-8) MARCXML MODS (XML) RIS MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Ստանդարտ)
Ավելի փնտրումներ

Որոնիր այս վերնագիրը ներսում՝
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org)