Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Еськин, А.К.

Методы анализа точности электронных устройств и схем : Обзорная информация / А.К. Еськин, В.В. Маркелов, Г.Е. Ганохин; ЦНИИТЭИ приборостроения. - Москва : ЦНИИТЭИприборостроения, 1975. - 27 с. - ТС-9."Технология приборостроения, патентно-лицензионная, изобретательская и рационализаторская работа, технико-экономические исследования" .

Библиогр.: с. 26(12 назв.)

Subjects--Topical Terms:
Точности электронных устройств и схем