Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем : Материалы IV всесоюзного научно-технического семинара / РРТИ МВ и ССО РСФСР ; Отв. ред. П.Т. Орешкин. - Рязань : РРТИ, 1982. - 160 с. : ил. - 621.38 (NLA) .

Библиогр. в конце докл.

Subjects--Topical Terms:
Электроника

Universal Decimal Class. No.: 621.38 (NLA)