Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Надежность микроэлектронных схем и элементов : Сборник научных трудов / АН УР ССР, Ин-т полупроводников. - Киев : Наукова Думка, 1982. - 207 с. : черт . ; 20 см. - 621.38 (NLA) .

Subjects--Topical Terms:
Микроэлектронные схемы

Universal Decimal Class. No.: 621.38 (NLA)