Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Раков, Александр Васильевич.

Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур / А.В. Раков. - Москва : Сов. радио, 1975. - 176 с. : 4 табл., 71 рис.

Библиогр. 115 назв.

ISBN: 00.55

Subjects--Topical Terms:
Спектрофотометрические исследования