Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Малышев, Владимир Александрович

Измерение удельного сопротивления полупроводниковых материалов методом сопротивления растекания / В.А. Малышев ; М-во электронной пром-сти СССР. - Москва : ЦНИИ "Электроника"., 1974. - 33 с. : ил. ; 21 см. - Обзоры по электронной технике. Серия: Полупроводниковые приборы ; Вып. 6 (204) .

Библиогр.: с. 30-32.

Subjects--Topical Terms:
Полупроводниковых материалы