Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Хейкер, Даниэль Моисеевич

Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов Вып. 2 / Д.М. Хейкер ; Под ред. Н.И. Комяка. - Л. : Машиностроение , 1973. - 256 с. - Методы рентгеновского анализа .

Специальное конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры

ISBN: 1.86

Subjects--Topical Terms:
Кристаллография