Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Фелдман, Леонард

Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; Пер. с англ. В.А. Аркадьева, Л.И. Огнева ; Под ред. В.В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 342 с. ; 22 см.

Библиогр. в конце глав



ISBN: 5-03-001017-3

Subjects--Topical Terms:
Пленки тонкие
Поверхностные слои