Исследование и разработка методов и устройств контроля параметров полупроводниковых структур и приборов : Дис. ... д-р техн. наук : 05.13.05, 05.27.01 /
Варданян, Рубен Рафаелович
Исследование и разработка методов и устройств контроля параметров полупроводниковых структур и приборов : Дис. ... д-р техн. наук : 05.13.05, 05.27.01 / ГИУА. - Ереван, 1993. - 194 с. : ил. + прил.
Список лит. с. 182-194
Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления
Твердотельная электроника и микроэлектроника
Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника
Dissertation
Исследование и разработка методов и устройств контроля параметров полупроводниковых структур и приборов : Дис. ... д-р техн. наук : 05.13.05, 05.27.01 / ГИУА. - Ереван, 1993. - 194 с. : ил. + прил.
Список лит. с. 182-194
Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления
Твердотельная электроника и микроэлектроника
Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника
Dissertation