Исследование и разработка методов контроля параметров полупроводниковых структур в магнитном поле : Автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 - Твердотельная электроника и микроэлектроник/
Мартиросян, Гегам Ашотович
Исследование и разработка методов контроля параметров полупроводниковых структур в магнитном поле : Автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 - Твердотельная электроника и микроэлектроник/ Մագնիսական դաշտում կիսահաղորդչային կառուցվածքների պարամետրերի հսկման մեթոդների հետազոտումը և մշակումը : Սեղմագիր տեխն. գիտ. թեկն. ... ատենախոսության : Ե.27.01 Г.А. Мартиросян. - Ереван, 2002. - 22 с. ; 20 см. - 05.27.01 (NLA) .
ГИУА ; Науч. рук. Р.Р. Варданян
Твердотельная электроника и микроэлектроника
Thesis
05.27.01 (NLA)
Исследование и разработка методов контроля параметров полупроводниковых структур в магнитном поле : Автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 - Твердотельная электроника и микроэлектроник/ Մագնիսական դաշտում կիսահաղորդչային կառուցվածքների պարամետրերի հսկման մեթոդների հետազոտումը և մշակումը : Սեղմագիր տեխն. գիտ. թեկն. ... ատենախոսության : Ե.27.01 Г.А. Мартиросян. - Ереван, 2002. - 22 с. ; 20 см. - 05.27.01 (NLA) .
ГИУА ; Науч. рук. Р.Р. Варданян
Твердотельная электроника и микроэлектроника
Thesis
05.27.01 (NLA)