Исследование структурных искажений возникающих в полупроводниковых кристаллах под действием электрических и магнитных полей методом рентгенодифракционного муара : Дис. ... канд. техн. наук : 05.16.01 /
Аршакян, Эдуард Завенович
Исследование структурных искажений возникающих в полупроводниковых кристаллах под действием электрических и магнитных полей методом рентгенодифракционного муара : Дис. ... канд. техн. наук : 05.16.01 / ГИУА. - Ереван : 2001. - 105 с. ил.
Науч. рук. А.О. Абоян
Список лит. с. 93-105
Материаловедение и композиционные материалы
Кристаллография
Рентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей
Dissertation
Исследование структурных искажений возникающих в полупроводниковых кристаллах под действием электрических и магнитных полей методом рентгенодифракционного муара : Дис. ... канд. техн. наук : 05.16.01 / ГИУА. - Ереван : 2001. - 105 с. ил.
Науч. рук. А.О. Абоян
Список лит. с. 93-105
Материаловедение и композиционные материалы
Кристаллография
Рентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей
Dissertation