Նորմալ դիտում MARC դիտում ISBD Դիտում

Надежность полупроводниковых устройств : Пер. с англ. /

Надежность полупроводниковых устройств : Пер. с англ. / Semiconuctor Reliability Под ред. А.А. Маслова. - Москва : Иностранная литература, 1963. - 426 с.

Subjects--Topical Terms:
Радиотехника. Электроника

Տպել
Ավելացրու քո սայլակին (հեռացրու)
Հիշիր գրառումը
BIBTEX Դուբլինյան միջուկ ISBD MARC (ոչ-Unicode/MARC-8) MARCXML MODS (XML) RIS MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Ստանդարտ)
Ավելի փնտրումներ

Որոնիր այս վերնագիրը ներսում՝
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org)